Highly sensitive frequency metrology for optical anisotropy measurements
G. Bailly, R. Thon et C. Robilliard
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G. Bailly, R. Thon et C. Robilliard
Antoine Monmayrant, Sébastien Weber and Béatrice Chatel
S. Zamith, F. Chirot and J.-M. L’Hermite
S. Zamith, P. Feiden, P. Labastie, and J.-M. L’Hermite
Sébastien Weber, Bertrand Girard and Béatrice Chatel
E. Torrontegui, J. Echanobe, A. Ruschhaupt, D. Guéry-Odelin, and J. G. Muga
J. D. Pritchard, D. Maxwell, A. Gauguet, K. J. Weatherill, M. P. A.
Jones and C. S. Adams
Jean-Philippe Champeaux, Pierre Çarçabal, Julien Rabier, Pierre Cafarelli, Martine Sence and Patrick Moretto-Capelle
C. Walter, R. Kritzer, A. Schubert, C. Meier, O. Dopfer and V. Engel
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